描述：PID測試潛在電勢誘導(dǎo)衰減，組件長期在高電壓工作，在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子、短路電流、開路電壓降低，使組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)；PID測試目的是為驗證組件經(jīng)受高強度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測試系統(tǒng)滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC61215-2 MQT21，簡潔、高效、使用便捷靈活，極大地方便用戶進行PID的測試實驗。
技術(shù)規(guī)格
產(chǎn)品概述
PID測試潛在電勢誘導(dǎo)衰減（potential Induced Degradation)，組件長期在高電壓工作，在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子、短路電流、開路電壓降低，使組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)；PID測試目的是為驗證組件經(jīng)受高強度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測試系統(tǒng)滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC61215-2 MQT21，簡潔、高效、使用便捷靈活，極大地方便用戶進行PID的測試實驗。
主要特點
● 滿足標(biāo)準(zhǔn) IEC61215-2 MQT21
● 多路輸出，可根據(jù)實際需求自由選擇搭配輸出通道數(shù)量
● 各通道電壓獨立設(shè)定輸出，極性可獨立設(shè)定
● 通道真正獨立，若其中一通道發(fā)生故障不影響其他通道工作
● 電壓設(shè)定范圍從 -2000V~+2000V 可連續(xù)設(shè)定，其他規(guī)格輸出電壓可定制選配
● 漏電流報警設(shè)置從 0-500μA
● 可以監(jiān)測環(huán)境試驗箱溫度 & 濕度（需提供試驗箱通訊指令）
● 測試時間可根據(jù)實際需求自由設(shè)定
